防雷元件测试仪时间?(防雷元件测试仪 )
在测压敏电阻漏流时,显示漏流值为什么渐渐上升至稳定,短时间内测同一个元器件,测出的数据为什么不一致?
被测压敏电阻在测试时,由于元器件内部温度影响,测漏流时,大电流的冲击,压敏电阻内部温度变化比较大,漏电流随着温度的变化而变化,zui后趋于稳定。气体放电管内部由于是隋性气体组成。在电流的冲击下,短时间内难以恢复原来状态必须经过一段时间恢复,才能获得准确结果,保证重复测试精度。
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